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【系统芯片*SoC的设计与测试】 潘*中*良 著【中文清晰版】
运行环境: Win9x/NT/2000/XP/2003 文件大小: 34703 K
软件等级: ★★★ 软件类别: 
开 发 商: Free 软件语言: 
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下载次数: 本日:   本周:  
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软件添加: 审核:admin 录入:admin 添加时间: 2011-8-12 1:00:16
::下载地址::
下载地址1  
::软件简介::
基本信息
  • 出版社: 科学出版社; 第1版 (2009年10月1日)
  • 平装: 323页
  • 正文语种: 汉语
  • 开本: 16
  • ISBN: 9787030256720
内容简介
《系统芯片SoC的设计与测试》内容简介:系统芯片SoC能实现一个系统的功能,它是从整个系统的功能和性能出发,采用软硬结合的设计和验证方法,利用芯核复用及深亚微米技术,在一个芯片上实现复杂的功能。系统芯片具有速度快、集成度高、功耗低等特点。《系统芯片SoC的设计与测试》详细介绍了系统芯片SoC的设计与测试的关键技术和主要方法。全书共15章,内容包括:系统芯片的设计模式与流程、系统芯片的总线结构、芯核设计、软硬件协同设计、系统芯片的存储系统设计、系统芯片中模拟/混合信号的设计、系统芯片的低功耗设计、信号完整性、系统芯片的验证、系统芯片的可测性设计、测试调度与测试结构的优化设计、芯核的测试、系统芯片的物理设计、片上网络等。
《系统芯片SoC的设计与测试》可作为电子、通信计算机、自动控制等学科高年级本科生和研究生的教材,也适合于从事电子信息、数字系统设计、测试和维护等相关专业的研究人员、工程技术人员学习参考。

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《系统芯片SoC的设计与测试》是由科学出版社出版的。
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